系统简介
隔膜厚度的检测可以通过红外、x射线和β射线来实现。其中红外和x射线技术由于其绿色环保的概念而被广泛采用；β射线存在辐射的防护的问题，需要办理环保审批手续。
一、x射线、β射线测厚系统
sysmart-bii系统扫描架的导轨、轴承、传动机构均采用进口部件，架体采用高强度合金钢自动焊接工艺，经振动消应处理；
电控部件采用进口精密调速部件，探头数据处理采用双元针对性开发的智能扫描数据高速综合处理系统；
厚度探头核心部件均进口自欧美市场，同时采用前置放大探头内腔精密恒温技术，恒温精度±0.1℃。在此基础上通过空载标定、砝码式内部标定技术，使得探头的检测精度和稳定性达到了计量仪器的标准！
系统具有导轨自动补偿功能，可以彻底消除导轨的长期累积误差和机架可能存在的变形，使系统保持长期的检测精准性；
清洁型结构设计，不会对被测片材造成任何污染；
二、红外测厚系统
基于物质的红外光谱吸收特性，对于pp、pe等高分子材料采用配套了ch键滤光片的红外成分检测传感器，就可以准确的检测出隔膜的厚度。红外探头把经过滤光片调制后的ch键吸收红外光谱射向薄膜表面，检测反射回来的红外光的能力，比较发射和接收两者的差值就可以通过吸收量计算出薄膜的厚度！
安装示意图：
